典型文献
利用表面热透镜方法测量光学元件热扩散率
文献摘要：
提出了一种基于表面热透镜技术的热扩散率测量方法.利用脉冲泵浦光加热样品,热量沿膜层传导形成温度场,温升区域热膨胀形成表面热包,其对探测光具有调制作用,产生了表面热透镜效应.通过分析热透镜信号的相位与探测距离的关系,求出了对应泵浦光频率下的热扩散长度,进而求得热扩散率.测量了膜厚为150 nm的铬膜样品的热扩散率,所提方法的测量结果为36.9 mm2/s,与光热偏转法的测量误差仅为0.8％,与其他不同类型样品在两种方法下的测量结果也较为接近,证明了所提方法的有效性.相对于光热偏转法,所提方法具有装置简单、受环境影响较小等优点.
文献关键词：
薄膜;激光光学;激光损伤;表面热透镜;热扩散率
中图分类号：
作者姓名：
胡晨璐;李大伟;刘晓凤;李笑玲;赵元安;邵建达
作者机构：
中国科学院上海光学精密机械研究所薄膜光学实验室, 上海 201800;中国科学院强激光材料重点实验室, 上海 201800;中国科学院大学材料与光电研究中心, 北京 100049;中国科学院大学杭州高等研究院, 浙江杭州 310024
文献出处：
引用格式：
[1]胡晨璐;李大伟;刘晓凤;李笑玲;赵元安;邵建达-.利用表面热透镜方法测量光学元件热扩散率)[J].中国激光,2022(21):77-83
A类：
表面热透镜
B类：
光学元件,热扩散率,泵浦,膜层,形成温度,热膨胀,胀形,测光,热透镜效应,探测距离,光频,mm2,光热,偏转,转法,测量误差,激光光学,激光损伤
AB值：
0.25841
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