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双层腔体屏蔽效能随孔缝位置与数量变化规律研究
文献摘要：
孔缝位置及数量会影响电磁波衍射,进而对双层腔体屏蔽效能产生重要影响.以中心位置携带单孔缝的双层腔体为研究对象,基于Robinson等效电路法与电磁拓扑理论,推导得到计算平面波辐照下双层腔体屏蔽效能的Baum-Liu-Tesche(BLT)方程.通过将偏心系数Cm与Robinson孔阵阻抗引入BLT方程,使修正后的BLT方程能计算含有任意孔缝位置与数量的双层腔体屏蔽效能.结果表明,双层腔体屏蔽效能随着内外层孔缝重合面积的减小而升高;当面积一定时,屏蔽效能随孔缝数量的增多而提高,然而,孔缝长度与波长相等时,屏蔽效能降低至极小值.B LT方程计算结果与CST仿真结果基本一致,并且计算时间极大幅度降低,证明修正后的BLT方程具有可靠性与快速性,为计算双层腔体屏蔽效能提供了一种有效且快速的方法.
文献关键词：
等效电路法;电磁拓扑理论;双层屏蔽腔体;BLT方程;屏蔽效能
中图分类号：
作者姓名：
张岩;田铮;王川川;杨清熙;王思飞
作者机构：
河北科技大学电气工程学院 石家庄 050018;陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室 石家庄 050003;电子信息系统复杂电磁环境效应国家重点实验室 洛阳 471003
文献出处：
引用格式：
[1]张岩;田铮;王川川;杨清熙;王思飞-.双层腔体屏蔽效能随孔缝位置与数量变化规律研究)[J].电工技术学报,2022(13):3350-3360
A类：
电磁拓扑,电磁拓扑理论,Tesche,双层屏蔽腔体
B类：
屏蔽效能,孔缝,数量变化,电磁波,中心位置,单孔,Robinson,等效电路法,平面波,辐照,照下,Baum,Liu,BLT,偏心,心系,Cm,外层,合面,当面,长相,相等,至极,极小值,CST,计算时间,大幅度降低,快速性
AB值：
0.256885
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