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基于X射线近场散斑的波前检测技术研究现状
文献摘要：
第四代同步辐射光源为多个研究领域提供了亮度和相干度更高、性能更加优异的X射线.为了充分发挥这些光束的潜力,需要精确的光束线装调和高质量的X射线光学元件.波前检测技术在这些方面发挥着重要作用.近10年来快速发展起来的基于X射线近场散斑的波前检测技术,具有简便易行、测量精度高等优点.利用散斑在深菲涅耳区形状和大小不变的特性,在参考图和样品图之间进行互相关计算,提取出入射波、待测光学元件透射波或反射波的波前信息.综述了利用X射线近场散斑开展波前检测的研究现状,介绍了 X射线散斑追迹技术、X射线散斑向量追迹技术、X射线散斑扫描技术、自相关X射线散斑扫描技术、通用调制图样分析技术和Ptychographic X射线散斑追迹技术的原理、实验流程,以及各自的优势和应用.
文献关键词：
X射线光学;同步辐射;波前检测;X射线近场散斑;面形检测
中图分类号：
作者姓名：
李凡;康乐;杨福桂;姚春霞;朱佩平;李明;盛伟繁
作者机构：
中国科学院高能物理研究所,北京100049;散裂中子源科学中心,广东东莞523803
文献出处：
引用格式：
[1]李凡;康乐;杨福桂;姚春霞;朱佩平;李明;盛伟繁-.基于X射线近场散斑的波前检测技术研究现状)[J].光学学报,2022(08):23-42
A类：
菲涅耳区,Ptychographic
B类：
近场,散斑,波前检测,第四代同步辐射光源,亮度,相干,干度,光束线,线装,装调,光学元件,简便易行,测量精度,互相关计算,出入,入射波,测光,反射波,扫描技术,自相关,制图样,优势和应用,面形检测
AB值：
0.292746
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