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基于Pancharatnam-Berry相位透镜的三维单粒子定位方法研究
文献摘要：
在三维单粒子追踪中,现有的双焦面轴向定位方法光路复杂,光利用率低,针对这一问题,提出了一种基于Pancharatnam-Berry相位透镜的三维单粒子定位方法.通过在传统荧光显微成像系统的光路中加入具有正负双焦距特性的Pancharatnam-Berry相位透镜,可以实现两个焦面同时成像在一个探测器上,利用在焦平面的光斑图像定位可获得单粒子的横向(x-y方向)位置信息,利用离焦平面与在焦平面的光斑强度比可以获得单粒子的轴向(z方向)位置信息.实验上,采用±100 mm焦距的Pancharatnam-Berry相位透镜,对1 μm的荧光珠进行三维位置定位,获得了x,y,z方向分别为10 nm,9 nm,22 nm的位置定位精度.
文献关键词：
Pancharatnam-Berry相位;荧光显微成像;双焦面成像;三维单粒子定位
中图分类号：
作者姓名：
曹博;霍英东;曹慧群;于斌
作者机构：
深圳大学物理与光电工程学院,光电子器件与系统教育部/广东省重点实验室,广东深圳 518060;深圳大学电子与信息工程学院,广东深圳 518060;南昌虚拟现实研究院股份有限公司,南昌 330000;深圳大学化学与环境工程学院,广东深圳 518060
文献出处：
引用格式：
[1]曹博;霍英东;曹慧群;于斌-.基于Pancharatnam-Berry相位透镜的三维单粒子定位方法研究)[J].激光杂志,2022(04):31-35
A类：
三维单粒子定位,双焦面,双焦面成像
B类：
Pancharatnam,Berry,透镜,定位方法,粒子追踪,光路,光利用率,荧光显微成像,成像系统,正负,焦距,探测器,焦平面,光斑图像,图像定位,位置信息,离焦,强度比,三维位置,位置定位,定位精度
AB值：
0.239949
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