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扫描电子显微镜-能谱分析仪(SEM-EDS)中面扫描法在高分子材料失效分析中的应用
文献摘要：
高分子材料因具有良好的加工特性及质量轻等优点而得到广泛应用,使用过程中高分子材料产生的失效问题需要重点关注.扫描电子显微镜-能谱分析仪具有分析形貌和元素,在金属材料失效分析领域应用较多,对于高分子材料的研究相对较少.本文首先应用扫描电子显微镜(SEM)对阻燃PA6失效制件、增强PC/ABS合金光老化失效制件进行形貌表征,得到的形貌数据可以明显看出失效部位与正常位置存在明显差异;另外利用扫描电子显微镜-能谱分析仪(SEM-EDS)中面扫描工具对失效区域进行元素分布分析,发现分散不均组分或异常组分的特征元素呈现了特征分布,根据面扫描的结果可以判断失效的原因或机理.该方法对于分析含有特征元素组分的高分子材料失效原因或研究高分子材料的老化机理具有很好的应用,对于研究高分子材料失效分析具有重要意义.
文献关键词：
SEM-EDS;面扫描;高分子材料;失效分析
中图分类号：
作者姓名：
王忠
作者机构：
中国合格评定国家认可委员会,北京 100021
文献出处：
引用格式：
[1]王忠-.扫描电子显微镜-能谱分析仪(SEM-EDS)中面扫描法在高分子材料失效分析中的应用)[J].中国检验检测,2022(06):7-11
A类：
B类：
能谱分析,EDS,面扫描,扫描法,高分子材料,材料失效分析,加工特性,金属材料,阻燃,PA6,制件,ABS,金光,光老化,老化失效,形貌表征,失效区域,元素分布,特征元素,特征分布,失效原因,老化机理
AB值：
0.251988
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