典型文献
基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现
文献摘要：
MCU内部集成的AD模块普遍应用于各类方案中,AD静态参数中的INL、DNL是评测AD性能的重要指标.使用专业仪器测试INL、DNL参数成本过高,因此用户对经济实惠且测试精准的专用测试台的需求日益显著.提供了一个低成本的AD静态参数自动测试系统设计方案,先阐述测试系统的基本实现原理,然后从硬件系统和软件系统两个部分详细介绍.实际使用证明,该测试系统适用于MCUAD模块的INL、DNL参数测试,工作稳定,测试精准,且成本低廉.
文献关键词：
STM32F429;AD静态参数;自动测试系统
中图分类号：
作者姓名：
陈恒江;仲海东;彭佳丽
作者机构：
无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡 214072
文献出处：
引用格式：
[1]陈恒江;仲海东;彭佳丽-.基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现)[J].电子与封装,2022(03):23-29
A类：
MCUAD
B类：
STM32F429,静态参数,自动测试系统,INL,DNL,评测,仪器测试,数成,实惠,测试台,测试系统设计,系统设计方案,实现原理,硬件系统,软件系统,使用证,参数测试
AB值：
0.334609
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