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典型文献
De-embedding技术在无源自动测试系统中的应用
文献摘要:
无源产品自动测试系统通常由矢量网络分析仪、开关矩阵及工控机组合而成.试验中能对多台产品进行性能测试,极大地提高了测试效率.但是传统的自动测试系统校准过程存在复杂、耗时长的缺点.因此提出一种基于矢量网络分析仪De-embedding技术(去嵌入技术)的校准办法,利用前期获得的开关矩阵S参数,快速实现自动测试系统校准.最后通过对同一件无源产品的传统校准测试结果和去嵌入校准测试结果的比对,证明矢量网络分析仪去嵌入功能在简化校准的基础上可以实现对产品性能的准确测试.
文献关键词:
矢量网络分析仪;去嵌入;自动测试
作者姓名:
朱宜东;李妮;王伟
作者机构:
中国空间技术研究院西安分院,陕西 西安 710100
文献出处:
引用格式:
[1]朱宜东;李妮;王伟-.De-embedding技术在无源自动测试系统中的应用)[J].自动化应用,2022(06):32-36
A类:
B类:
De,embedding,无源,自动测试系统,统通,矢量网络分析仪,开关矩阵,工控机,组合而成,多台,极大地提高,测试效率,系统校准,去嵌入,嵌入技术,快速实现,入校,产品性能
AB值:
0.245857
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