典型文献
恒流驱动下基于VeE_max的IGBT模块解耦老化影响的结温测量方法
文献摘要：
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的结温在线测量对于电力电子装置的安全可靠运行、延长使用寿命和热管理等都具有重要意义.然而,目前大多数温敏电参数均受IGBT模块疲劳老化的影响.为此,该文提出一种恒流驱动下基于感应电压峰值VeE_max的IGBT模块结温在线测量方法,该方法能够解耦键合线老化对温敏电参数的影响.基于双脉冲实验平台分析VeE_max的温线性度和温敏感度,并通过模拟键合线老化实验验证所提方法的老化解耦性.最后,通过Buck变换器验证该方法在运行变流器中在线结温测量的可行性.
文献关键词：
绝缘栅双极型晶体管(IGBT);温敏电参数;解耦老化影响;结温在线测量
中图分类号：
作者姓名：
杨舒萌;孙鹏菊;王凯宏;王绪龙;黄旭
作者机构：
输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学) 重庆 400044;株洲中车时代半导体有限公司 株洲 412001
文献出处：
引用格式：
[1]杨舒萌;孙鹏菊;王凯宏;王绪龙;黄旭-.恒流驱动下基于VeE_max的IGBT模块解耦老化影响的结温测量方法)[J].电工技术学报,2022(12):3038-3047,3072
A类：
VeE,解耦老化影响,结温在线测量,温敏电参数
B类：
恒流驱动,max,IGBT,结温测量,绝缘栅双极型晶体管,电力电子装置,可靠运行,热管理,参数均,感应电压,键合线,双脉冲,实验平台,线性度,老化实验,Buck,变换器,变流器,线结
AB值：
0.193682
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