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基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术
文献摘要：
微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业.MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节.本文对MCU测试过程中,对测试方法在各环节中的应用,测试平台设备的选择、测试软硬件开发、测试数据收集与分析三大环节中的关键技术性问题进行了简述.
文献关键词：
MCU测试;工程化与量产;测试硬件设计;程序开发调试;测试数据分析
中图分类号：
作者姓名：
毛景雄;岳龙;邓艺华;陆裕东;李汝冠;江雪晨
作者机构：
广州广电计量检测股份有限公司
文献出处：
引用格式：
[1]毛景雄;岳龙;邓艺华;陆裕东;李汝冠;江雪晨-.基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术)[J].中国集成电路,2022(12):84-89
A类：
量产测试,工程化与量产,测试硬件设计,程序开发调试
B类：
ATE,MCU,微控制单元,Microcontroller,Unit,嵌入式系统,渗透到,汽车电子,遍布,封装,试过,测试平台,数据收集与分析,测试数据分析
AB值：
0.306267
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