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典型文献
PAM4高速光模块误码测试系统硬件设计
文献摘要:
设计了一种兼容NRZ与PAM4信号调制的多通道高速误码测试仪系统方案,支持单通道测试速率为1.25 Gbps~56 Gbps.硬件系统采用Inphi公司ASIC芯片IN015050作为码型发生与接收器,同时设计了专用时钟模块板用于提供差分时钟输入,以及用于扇出光模块信号的夹具板.系统中PCB设计采用高速板材与共面波导结构解决了传输线的信号完整性问题,符合CEI-28G-VSR与OIF-56G-VSR协议规范.所设计的硬件系统经过眼图分析,输出电眼图指标jitter-PP为4.358 ps,均方值jitter-RMS为704.0 fs,搭载DML调制100G-LR4光模块测试光眼图容限为12.5%,PAM4模块误码率低于10-5量级,符合IEEE Std 802.3bs协议标准.
文献关键词:
PAM4;误码仪;信号完整性;光模块
作者姓名:
胡庆昆;尤青;宋英雄;张倩武
作者机构:
上海大学特种光纤与光接入网重点实验室,上海 200444
文献出处:
引用格式:
[1]胡庆昆;尤青;宋英雄;张倩武-.PAM4高速光模块误码测试系统硬件设计)[J].工业控制计算机,2022(08):30-33
A类:
误码测试,Inphi,IN015050,28G,56G,3bs,误码仪
B类:
PAM4,光模块,测试系统,系统硬件,硬件设计,NRZ,信号调制,多通道,测试仪,系统方案,单通道,通道测试,Gbps,硬件系统,ASIC,码型,接收器,时钟,块板,扇出,夹具,PCB,板材,共面波导,波导结构,传输线,信号完整性,CEI,VSR,OIF,过眼,眼图,电眼,jitter,PP,RMS,fs,搭载,DML,100G,LR4,容限,误码率,IEEE,Std,议标
AB值:
0.485642
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