典型文献
一种应用于折叠/插值型ADC的高速宽带采样保持电路
文献摘要：
本文提出了一种基于0.18?μm?BiCMOS工艺设计的开环采样保持电路,采用了增益和失调误差数字校准算法提升动态性能,应用于高速折叠/插值型ADC中.电路仿真和测试结果表明,在2GSPS采样率下,折叠/插值型ADC的DNL≤±0.3LSB、INL≤±0.3LSB,有效位达到7.32位.
文献关键词：
开环采样保持电路;数字校准;折叠插值
中图分类号：
作者姓名：
钟科;张正平
作者机构：
中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都 610000;重庆吉芯科技有限公司,重庆 400060
文献出处：
引用格式：
[1]钟科;张正平-.一种应用于折叠/插值型ADC的高速宽带采样保持电路)[J].电子产品世界,2022(05):63-66
A类：
开环采样保持电路,2GSPS,3LSB,折叠插值
B类：
ADC,宽带,BiCMOS,工艺设计,失调误差,差数,数字校准算法,动态性能,电路仿真,采样率,DNL,INL,有效位
AB值：
0.266087
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