典型文献
半导体三极管的失效分析与可靠性研究
文献摘要：
三极管在电路中主要起放大和开关作用,产品在实际应用中失效多单,经分析主要故障为短路与开路失效.通过X光、CT扫描、开封等方法分析研究,发现此故障为焊接不良、塌丝导致.对全流程包含设备的生产环节进行整改,并通过优化检测方法、增加显微镜检查以及X光全检等检测设备,提高产品可靠性.
文献关键词：
虚焊;硅碎;塌丝;显微镜;X光透视;测试方法
中图分类号：
作者姓名：
王少辉;项永金
作者机构：
格力电器(合肥)有限公司,合肥 230088
文献出处：
引用格式：
[1]王少辉;项永金-.半导体三极管的失效分析与可靠性研究)[J].电子产品世界,2022(01):33-36
A类：
塌丝,硅碎
B类：
三极管,失效分析,可靠性研究,主要故障,短路,开路,开封,生产环节,优化检测,显微镜检查,检测设备,产品可靠性,虚焊
AB值：
0.345442
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