典型文献
针对密码芯片电磁辐射泄漏的特征选择方法
文献摘要：
针对密码芯片运行过程中的电磁辐射泄漏,提出基于汉明重量模型的特征选择方法,该方法利用电磁辐射能量依赖于被处理数据汉明重量这一事实.首先,对密码算法中间值的不同汉明重量构建不同的类别,每个类别使用各自的选择明文执行重复加密运算,同时采集芯片辐射的电磁信号;然后,计算每个类别内电磁信号的均值以及任意2个类别间电磁信号的均值之差,得到一个差值矩阵;最后,定义1组变量对差值矩阵进行约束,将满足约束条件的点选为特征点.实验结果表明:基于汉明重量模型不仅能够实现特征点的有效选择,与相关系数特征选择方法相比,该方法还能显著减少模板构建所需的电磁泄漏迹数量.
文献关键词：
模板攻击;侧信道攻击;特征选择;汉明重量模型;相关系数;欧氏距离;SM4分组密码
中图分类号：
作者姓名：
文毅;郭澍;孔昊;郭剑虹
作者机构：
国家应用软件产品质量检验检测中心(北京软件产品质量检测检验中心) 北京 100193
文献出处：
引用格式：
[1]文毅;郭澍;孔昊;郭剑虹-.针对密码芯片电磁辐射泄漏的特征选择方法)[J].信息安全研究,2022(12):1214-1222
A类：
汉明重量模型
B类：
电磁辐射,特征选择,选择方法,法利,辐射能量,一事,密码算法,中间值,明文,电磁信号,组变量,行约,点选,选为,特征点,建所,电磁泄漏,模板攻击,侧信道攻击,欧氏距离,SM4,分组密码
AB值：
0.303184
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