典型文献
X射线吸收谱测算锂氮共掺杂氧化锌薄膜局域电子结构
文献摘要：
为了实现对Li—N共掺杂p型ZnO薄膜的形成机制以及其稳定p型导电原因的揭示,利用X射线光电子谱及基于同步辐射光源的X射线吸收精细结构谱测试对薄膜的局域电子结构进行了测算分析.获得了Li—N成键及Li—N复合型受主形成的信号,利用光致发光测量计算其受主能级为122 mV.证实了薄膜中Li—N复合型受主的形成,而Li—N共掺杂p型ZnO良好的稳定性则归因于Li—N共掺杂在p型ZnO薄膜中实现了Li和N的成键.
文献关键词：
氧化锌;p型掺杂;形成机制;稳定性;X射线吸收精细结构谱
中图分类号：
作者姓名：
申赫;王岩岩;高铭;李东飞
作者机构：
吉林师范大学 功能材料物理与化学教育部重点实验室, 吉林 长春 130103;吉林师范大学 物理学院, 吉林 四平 136000;吉林师范大学 环境友好材料制备与应用教育部重点实验室,吉林 长春 130103;吉林师范大学 化学学院,吉林 四平 136000
文献出处：
引用格式：
[1]申赫;王岩岩;高铭;李东飞-.X射线吸收谱测算锂氮共掺杂氧化锌薄膜局域电子结构)[J].发光学报,2022(02):218-225
A类：
B类：
吸收谱,共掺杂,氧化锌薄膜,局域,电子结构,Li,ZnO,光电子谱,同步辐射光源,精细结构,测算分析,成键,利用光,光致发光,测量计算,能级,mV,归因于
AB值：
0.307016
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
