典型文献
基于特征发射光谱的SF6电晕放电检测
文献摘要:
局部放电检测是气体绝缘电气设备状态诊断与评估的重要方法.本文采用针-板电极模拟电晕放电缺陷,用光学法检测SF6气体放电的发射光谱,确定了SF6电晕放电的特征发射光谱,主要集中309 nm附近及420~510 nm波段,前者由微水中电离的OH从激发态A2Σ(ν′=0)发光淬灭到基态X2Π(ν″=0)形成,后一谱段是六氟化硫(SF6)及硫的低氟化物(SF6-x)组成的分子光谱.基于前期检测结果对光学透镜和滤光片进行进一步选型,初步采用A、B、C三种滤光片,搭建了一种基于发射光谱原理的窄带滤光法光电倍增管检测系统,并利用该系统对电晕放电产生的光信号进行检测.实验结果与基于脉冲电流法的多通道数字式局部放电综合分析仪测量结果对比,与脉冲电流法检测结果相当.光学检测法是一种原位、实时、抗电磁干扰强的检测方法,本方法能为局部放电的实时监测提供可供参考的方案.
文献关键词:
发射光谱;电晕放电;局部放电;SF6
中图分类号:
作者姓名:
汤贝贝;韩冬;李彦飞;张国强
作者机构:
中国科学院电工研究所,北京100190;中国科学院大学,北京100049
文献出处:
引用格式:
[1]汤贝贝;韩冬;李彦飞;张国强-.基于特征发射光谱的SF6电晕放电检测)[J].电工电能新技术,2022(08):71-78
A类:
B类:
征发,发射光谱,SF6,电晕放电,局部放电检测,气体绝缘,电气设备,设备状态,状态诊断,诊断与评估,电极模,放电缺陷,光学法,气体放电,波段,微水,电离,激发态,A2,淬灭,基态,X2,六氟化硫,氟化物,分子光谱,光学透镜,滤光片,窄带,光电倍增管,光信号,脉冲电流法,多通道,通道数,数字式,结果对比,光学检测,检测法,抗电磁干扰,可供参考
AB值:
0.349929
相似文献
机标中图分类号,由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成,仅供学习研究参考。