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逐像素调制的高反光表面三维测量方法
文献摘要：
高反光表面的三维面形测量是光学三维测量领域的难题之一,本文提出一种基于逐像素调制的高反光表面三维测量方法,可解决光学三维测量中因过度曝光而导致的相位信息无法获取的问题.首先,通过投影最大灰度值的灰度图识别饱和像素点的位置;然后,依据投影低灰度下横纵条纹图进行过饱和区域坐标匹配,并结合一种新的相机-投影仪强度映射关系,逐像素求解过饱和像素点的最佳投影灰度值;最后,投影重新生成自适应条纹投影序列,并结合多频外差相移法用于相位恢复和三维重建.实验结果表明:所提方法的间距平均误差和标准偏差均小于文中其他方法所得的测量值,相对于传统方法,该方法的平均误差减少了61.9％,标准偏差减少了67.7％.本文所提方法的调制度高,速度快,能保证很高的测量精度.
文献关键词：
三维测量;逐像素调制;高反光表面;自适应条纹投影
中图分类号：
作者姓名：
冯维;徐仕楠;王恒辉;熊芝;王选择;翟中生
作者机构：
湖北工业大学 机械工程学院, 武汉 430068;现代制造质量工程湖北省重点实验室, 武汉 430068
文献出处：
引用格式：
[1]冯维;徐仕楠;王恒辉;熊芝;王选择;翟中生-.逐像素调制的高反光表面三维测量方法)[J].中国光学,2022(03):488-497
A类：
逐像素调制,高反光表面,自适应条纹投影
B类：
三维面形测量,光学三维测量,曝光,相位信息,灰度值,灰度图,像素点,过饱和,坐标匹配,投影仪,映射关系,多频外差,差相移,相移法,相位恢复,三维重建,距平,平均误差,标准偏差,其他方法,测量值,调制度,测量精度
AB值：
0.23547
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