典型文献
空间单粒子翻转甄别与定位系统原理样机的设计及试验
文献摘要：
单粒子翻转(SEU)是影响空间电子设备可靠性的重要因素,本文提出了一种SEU甄别与定位技术方法,研制了原理样机.硅探测器与辐照敏感器件在垂直方向相互临近安装,粒子入射到硅探测器的位置区域与目标辐照器件单粒子翻转的物理位置相对应.采用波形数字化技术实现了多道粒子甄别与能量信号测量,通过数据回读比较法实现了SRAM器件翻转逻辑定位检测.根据实验室测试和单粒子辐照试验结果,可探测高能粒子的LET≥6.06×10-3 MeV?cm2/mg,入射粒子的位置分辨率优于5 mm,最大计数率≥10000 s-1,SRAM器件的SEU巡检周期时间分辨率为13.76 ms.通过掌握大容量SRAM型器件的SEU甄别与定位及其辐射环境感知能力,有助于提升空间电子设备的在轨工作性能.
文献关键词：
单粒子翻转;SRAM;甄别;定位
中图分类号：
作者姓名：
赵振栋;陶文泽;李衍存;成毅;张庆祥;安恒;全小平;张晨光
作者机构：
兰州空间技术物理研究所,甘肃 兰州 730000;北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;成都理工大学,四川 成都 610059
文献出处：
引用格式：
[1]赵振栋;陶文泽;李衍存;成毅;张庆祥;安恒;全小平;张晨光-.空间单粒子翻转甄别与定位系统原理样机的设计及试验)[J].原子能科学技术,2022(04):749-757
A类：
波形数字化
B类：
单粒子翻转,甄别,定位系统,系统原理,原理样机,SEU,影响空间,电子设备,设备可靠性,定位技术,探测器,垂直方向,入射,射到,数字化技术,信号测量,数据回读,比较法,SRAM,定位检测,实验室测试,单粒子辐照,辐照试验,测高,LET,MeV,位置分辨率,大计,计数率,巡检,周期时间,时间分辨率,ms,大容量,辐射环境,环境感知,感知能力,提升空间,在轨,工作性能
AB值：
0.398284
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