典型文献
一种低开销的旁路重构RO的片上老化测量方案
文献摘要：
芯片老化引发的可靠性问题日益严重,会降低芯片性能,最终可能导致芯片失效.针对已有的芯片老化测量结构硬件开销大、影响关键路径时序等问题,提出了一种低开销的旁路重构振荡环的片上老化测量方案.实验结果表明,相比现有方案,该方案硬件开销降低了63.2％,在性能上平均提高了15.7％,并且老化在线测量误差较小,仅为2％.
文献关键词：
关键路径时序;旁路重构;振荡环;老化测量方案
中图分类号：
作者姓名：
马俊祥;梁华国;李丹青;易茂祥;鲁迎春;蒋翠云
作者机构：
合肥工业大学微电子学院,合肥230009;合肥工业大学数学学院,合肥230009
文献出处：
引用格式：
[1]马俊祥;梁华国;李丹青;易茂祥;鲁迎春;蒋翠云-.一种低开销的旁路重构RO的片上老化测量方案)[J].微电子学,2022(06):1090-1095
A类：
旁路重构,老化测量方案,关键路径时序
B类：
RO,芯片老化,日益严重,芯片失效,硬件开销,振荡环,在线测量,测量误差
AB值：
0.186882
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