典型文献
非对称加权惩罚最小二乘算法校正X射线荧光法定量精铜痕量银元素模型
文献摘要：
针对精铜中痕量银元素定量时特征X射线存在背景干扰的问题,采用非对称加权惩罚最小二乘算法(arPLS)对X射线荧光光谱进行基线校正,建立精铜中痕量银元素定量检测模型.通过改变算法平滑参数(λ)和收敛条件(ratio),研究痕量元素X射线光谱基线随参数变化规律,对60组光谱数据采用调整参数并图像监控的方式估计基线.所建立的定量模型不确定度系数R2=0.9862,均方根误差(RMSE)为0.0040 wt％.与不经背景校正算法相比,定量模型R2提高了 0.0211,RMSE降低了 0.0023 wt％,预测值和参考值平均相对误差缩减了 2倍,预测不确定度由0.0028 wt％降低为0.0025 wt％.所建立的定量模型可应用于冶金在线检测、金属回收、合金强化等领域.
文献关键词：
背景扣除算法;X射线荧光分析仪;工作曲线性能;非对称加权惩罚最小二乘算法
中图分类号：
作者姓名：
郝军;李福生;江晓宇;王清亚;杨本永;曹杰
作者机构：
东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,南昌330013;东华理工大学核资源与环境国家重点实验室,南昌330013;电子科技大学长三角研究院(湖州),湖州313001;中国科学院安徽光学精密机械研究所,合肥230031
文献出处：
引用格式：
[1]郝军;李福生;江晓宇;王清亚;杨本永;曹杰-.非对称加权惩罚最小二乘算法校正X射线荧光法定量精铜痕量银元素模型)[J].分析试验室,2022(08):904-909
A类：
非对称加权惩罚最小二乘算法,arPLS,背景校正算法,背景扣除算法,工作曲线性能
B类：
荧光法,银元,背景干扰,荧光光谱,基线校正,定量检测,检测模型,ratio,痕量元素,参数变化,光谱数据,调整参数,图像监控,定量模型,模型不确定,不确定度,RMSE,wt,不经,参考值,平均相对误差,冶金,在线检测,金属回收,合金强化,荧光分析
AB值：
0.248763
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
