典型文献
一种基于MCU芯片的FPGA原型验证平台设计
文献摘要：
为了缩短MCU芯片开发周期,提出了一种基于MCU芯片FPGA原型验证平台设计.该设计是将传统FPGA原型验证过程中使用FPGA的RAM原型替换程序存储单元,改为使用FPGA双端口 RAM替换.其中一个端口控制按照传统的接入方法,另一端口控制信号接到专门的控制逻辑上,独立控制,而且不影响原MCU芯片功能.该方法不仅节省多次FPGA综合实现的时间,而且可以灵活实时监测RAM,方便查错.同时该方法具有通用性,可移植到类似的SoC系统架构FPGA原型验证系统中去.
文献关键词：
MCU芯片;FPGA原型;验证平台;双端RAM;可复用
中图分类号：
作者姓名：
张文文;唐映强
作者机构：
无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072
文献出处：
引用格式：
[1]张文文;唐映强-.一种基于MCU芯片的FPGA原型验证平台设计)[J].电子技术应用,2022(09):59-62
A类：
B类：
MCU,FPGA,原型验证,验证平台,平台设计,芯片开发,开发周期,验证过程,RAM,存储单元,双端口,端口控制,另一端,控制信号,接到,控制逻辑,独立控制,查错,通用性,可移植,SoC,系统架构,验证系统,可复用
AB值：
0.391902
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