典型文献
IEC 62368-1受限制短路试验的豁免设计
文献摘要：
IEC 62368-1基于IEC 60950-1基础,对保护连接导体新增附录R受限制短路试验,旨在验证过流保护装置有效性.受限制短路试验具有电流能量大、操作复杂等特点难以实施.为降低测试成本,文中提出3种设计方案,既能够保障设备防电击绝缘性能,又合理地豁免考核.
文献关键词：
IEC 62368-1;受限制短路试验;保护连接导体;过流保护装置;豁免设计
中图分类号：
作者姓名：
朱乃榕
作者机构：
福建省产品质量检验研究院,福建福州350002
文献出处：
引用格式：
[1]朱乃榕-.IEC 62368-1受限制短路试验的豁免设计)[J].市场监管与质量技术研究,2022(02):24-27
A类：
受限制短路试验,豁免设计,保护连接导体
B类：
IEC,附录,过流保护装置,降低测试成本,电击,绝缘性能,免考
AB值：
0.140889
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